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计算机断层扫描和自动化检测的下一阶段
- 大尺寸平板探测器实现极致灵活性
- 同级最好的micro3Dslice平面层析扫描,及FF CT软件
- 为敏感部件及材料设定的放射模式
- 高承载能力 (< 20 kg)
- 可根据客户需求优化配置
设备尺寸 (长 X 宽 X 高) 1,000 x 1,050 x 2,200 mm
重量 1,450 kg
电源需求 230 V ± 10% AC, 50/60 赫兹,
单相电源, 中性及接地导线
熔丝保护 16 A
最大功率消耗 2.5 kVA
最大辐射泄露率* < 1µSv/h
* 距离铅房表面100 MM 测得数据
检测部件
最大样品尺寸 440 x 550 mm (17“ x 21“)
最大扫描区域 310 x 310 mm (12“ x 12“)
最大样品承重 (标准) 5 kg
最大可旋转样品重量 2 kg
通用产品参数
首张图片用时 (典型) ~ 10 s
系统重置用时 (典型) < 60 s
µCT 扫描用时 (快速扫描)
2000 张投影 ~ 3.15 分钟
µCT 重构用时 (快速扫描)
2000 张投影 ~ 1.55 分钟
micro3D 扫描用时 (micro 3DSlice
半导体) 120 张投影 ~ 1.45 分钟
micro3D 重构用时 (micro 3DSlice
半导体) 120 张投影 ~ 0.30 分钟
样品装载 样品装载门 手动
铅房窗 380 x 200 mm
显示器 27” 英寸广角高锐显示器
Zoom+ 配置
载物台
操作台控制方式 通过鼠标或摇杆
载物台控制轴 X, Y, Z(D)*
探测器倾斜角 +/-70° (140°)
* 可选配平面旋转平台和360°轴向旋转轴
射线管参数: FXT-160.50 微焦点 FXT-160.51 多焦点
靶类型 穿透式
电压范围 20 – 160 kV
电流范围 0.001 – 1.0 mA
最大管功率 最大 64 W
最大靶功率 最大 15 W
靶轰击材料 钨
最小缺陷检测能力 0.75 µm 0.35 µm
X射线强度控制 TXI
图像链
几何放大倍数 ~ 2,000 x
系统放大倍数 ~ 256,000 x
空间分辨率 1.5 µm 0.7 µm
探测器参数 Y.Panel 1308 Y.Panel 1313 ORYX 1616
探测器类型 非晶硅平板数字探测器
最高像素分辨率 1004 x 620 1004 x 1004 1276 x 1276
像素尺寸 127 µm²
X射线接收区域 128 mm x 79 mm 128 mm x 128 mm 162 mm x 162 mm
数模转换器 16 位